DEJÓ el gran Leon Tolstoy una frase que viene a cuento: “Si buscas la perfección, nunca estarás contento”. Y, por una vez, se equivocó el gigante ruso de las letras.

La evidencia de su yerro se encuentra ayer y hoy a la vista en Bilbao. A mediodía de ayer tomaban su café o té del descanso en el Euskalduna cerca de un centenar de personas provenientes de varios países. Parecían razonablemente contentas. Se las veía disfrutar. Charlaban animadamente. Y eso que todas se dedican a la perfección. En su universo, los errores se miden en micras. La milésima parte de un milímetro.

Se trataba de ponentes y oyentes de Metromeet. Un evento único: la conferencia anual más importante en el sector de la Metrología Dimensional Industrial. Se tomaban un respiro entre charla y workshop profesionales provenientes de Japón, Chile, Estados Unidos, Alemania, Suiza, Bélgica y un puñado de países más. Devotas y devotos de la perfección imperceptible.

“En la fabricación de automoción, aeronáutica, ferrocarriles y máquina herramienta los controles de calidad son fundamentales”, explica Jesús de la Maza, presidente de Innovalia, entidad organizadora.

“Tradicionalmente los controles de calidad se realizaban en laboratorios, ahora tratamos de que esos procesos de comprobación se realicen durante la misma fabricación mediante sensores, por eso aquí reunimos profesionales de la universidad, los laboratorios y la producción”, añade.

Los ponentes en las conferencias son Toni Ventura, de Datapixel; el belga Narendra Akhadkar y el tejano Daniel Campbell, de Schneider Electric; Edward Morse, de la Universidad de North Carolina; Brahim Ahmed, de Tekniker, Matthias Karl de la alemana Carl Zeiss; Thomas Engel, de la también germana Siemens; Roberto Perez, de la suiza Machining Solutions; el argentino Federico Grasso Toro; el teutón Gerd Schwaderer; Dimitris Kyritsis, profesor de la Universidad de Lausana; Ibon Holgado de la UPV/EHU; el italiano Andrea Pellegrino; el brasileño Pablo Antunes da Rosa; Serafeim Moustakidis y Eleni Lavasa, de Grecia ; Joe Eastwood, de la Universidad de Nottingham; James Schipmann Eger, de la universidad federal de Santa Catarina en Brasil ; y, por parte de Innovalia, la ingeniera Ainhoa Etxabarri y el director de Managing, Óscar Lázaro.

También participan en Metromeet Uxue Oteo, Deniz Ozturk, Nieves Rivas, Yasue Terai, Eneko Rada, Iñigo Fonfría, Irene Zalduegui, Silvia Rodríguez, Marta Gutiérrez, Soraya Plaza o Leire Santamaría.

Metromeet celebra esta edición su 20 aniversario. Y este año vuelve al formato presencial tras el de videoconferencias obligado por el covid.

Entre café y canapé, la concurrencia se dedicó a ver cómo funcionaba M3. Un escáner 3D desarrollado por Innovalia para realizar mapping de color de piezas. Y verificar sus potenciales errores. A la micra.